冷场发射扫描电子显微镜(SEM)(YQJC-EQ-W01-001)
型号规格:Hitachi-Regulus 8100
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可拍磁性样品;最小标尺100nm;最大80万倍。
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DELIVER INFORMATION
送样须知

送样须知:

1、样品无放射性,无腐蚀性,无毒性;

2、样品不吸水,无挥发性物质;不大量放气(尤其是腐蚀性气体);

3、样品须为固态干燥样品(片状、块状或粉末):

(1)块状样品:面积小于50mm×50mm,高度小于10mm;

(2)粉末样品:样品量大于10mg;

4、含水样品测试时均需干燥后测试;

5、块体、片状、薄膜样品请标注测试面;粉末不能测试线扫;

6、磁性样品只可拍弱磁性块状样品;

7、明确样品是否有磁性,提供测试倍数,相关形貌参考图片,如测试EDS需提供测试位置,测试元素,测试倍数。

FUNCTION INTRODUCTION
功能介绍

广泛应用于复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、生物材料、电子材料等块体、片状、薄膜样品的微观形貌分析及其成份定性分析。

是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。

Performance parameter
性能参数

1、二次电子分辨率:0.8nm(加速电压15kV);1.1nm(加速电压1kV);

2、加速电压:0.5~30kV;

3、放大倍数:20X~1000000X;

4、能谱元素分析范围:5B~92U。

TEST CASE
案例分析

碳材料样品SEM照片

DNA样品SEM照片

电池材料样品SEM照片

镀铜PET材料的SEM照片和相应元素的线扫图和Mapping图像