送样须知：

1、元素测试范围：Li~Cm，H和He无法测试；

2、样品含有硫或碘等卤族元素提前告知，避免污染高真空系统；

3、一般含有铁、钴、镍、锰成分的样品，若不提前告知，默认按磁性样品进行退磁处理后再进样；

4、含量低于5%的元素请务必注明。元素分布不均或者质量分数小于2%的元素可能测不出明显信号，不保证测试会出峰；

5、预处理尺寸要求：块状/片状/薄膜：长宽厚不超出1cm×1cm×3mm（磁性样品尽量小）（对块状样品或薄膜样品的测试 面做好标记）；粉末样品小于200目，不少于10mg，量少请用称量纸包好再装到管子里寄送。请勿用手触摸样品表面，会引入污染。制好样后请尽快密封，避免其他物质污染。

XPS主要是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析，其特点在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

1、收集角范围：±5°；

2、冷热样品台温度范围：-140℃~600℃。