原位X射线光电子能谱仪(In-Situ XPS)(-)
型号规格:Ulvac-Phi-PHI 5000 Versaprobe
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DELIVER INFORMATION
送样须知

送样须知:

1、元素测试范围:Li~Cm,H和He无法测试;

2、样品含有硫或碘等卤族元素提前告知,避免污染高真空系统;

3、一般含有铁、钴、镍、锰成分的样品,若不提前告知,默认按磁性样品进行退磁处理后再进样;

4、含量低于5%的元素请务必注明。元素分布不均或者质量分数小于2%的元素可能测不出明显信号,不保证测试会出峰;

5、预处理尺寸要求:块状/片状/薄膜:长宽厚不超出1cm×1cm×3mm(磁性样品尽量小)(对块状样品或薄膜样品的测试 面做好标记);粉末样品小于200目,不少于10mg,量少请用称量纸包好再装到管子里寄送。请勿用手触摸样品表面,会引入污染。制好样后请尽快密封,避免其他物质污染。

FUNCTION INTRODUCTION
功能介绍

XPS主要是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析,其特点在光电子来自表面10nm以内,仅带出表面的化学信息,具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点,广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究,以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

Performance parameter
性能参数

1、收集角范围:±5°;

2、冷热样品台温度范围:-140℃~600℃。

TEST CASE
案例分析