FEI F30 高分辨透射电子显微镜
(MDTC-EQ-M17-01)
型号规格:FEI Tecnai G2 F30
注意事项:仪器送样标准:1、 样品彻底干燥,不含任何溶剂,避免损坏仪器;STEM项目及元素分布项目,对样品干燥度要求较高,需提前6小时送至电镜室在真空干燥处理;样品含Fe Co Ni元素的样品需提前预约T12进行快速筛样,样品过浓或尺寸大于500纳米的以上样品筛除,符合条件的样品才允许使用高分辨透射电镜观察。2、无磁性,无放射性, 预约时未注明磁性,对电镜造成损伤要承担相应责任;3、单个样品送样量应不少于20mg;4、薄膜样品厚度小于100nm,直径为3毫米圆片;5、粉末样品需置
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    FEI Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜产自美国FEI公司。本设备配备附件主要有:Gatan公司ultrascan CCD,高角环形暗场(HAADF)探测器,Oxford公司EDAX成分分析系统,Gatan公司后置式电子能量损失谱(PEELS)系统。

    FEI Tecnai G2 F30透射电镜,可以进行的测试内容如下:

    1、电子衍射和衍衬分析

    2、高分辨电子显微成像(HRTEM)

    3、扫描透射成像(STEM)

    4、X射线能量色散谱(EDS)分析

    5、电子能量损失谱(EELS)及能量过滤像(EFTEM)技术

    6、3D-Tomography

    主要技术指标为:肖特基场发射枪(FEG),点分辨率0.205 nm,线分辨率0.102 nm,信息分辨率0.14 nm,STEM-HAADF模式分辨率0.17 nm,物镜色差系数1.4 mm,物镜球差系数1.2 mm。电子衍射模拟和高分辨像模拟的计算工作采用Jems软件,主要用于模拟F30电镜上拍摄的实验像,模拟时对电镜的参数设置为:加速电压300 kV,物镜色差系数1.4 mm,物镜球差系数1.2 mm,能量扩展0.8 eV,半会聚角0.2 mrad。F30透射电镜除了可以常规的形貌、衍射和高分辨像观察外,配备的高角环形暗场探测器(HAADF)可以进行高角环形暗场像和Z-衬度像的采集;配备的特征X 射线能谱仪(EDS)可以进行纳米尺度的成分分析,能量分辨率为130eV